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  • 日本日置電池阻抗分析儀
    日本日置電池阻抗分析儀

    日本日置電池阻抗分析儀BT4560 鋰電池的可靠性判斷10秒 ●低頻AC-IR*測量,測量時間短 *使用1Hz以下的低頻測量內阻的話不需要充放電 ●也能精確*測量低阻電池 *改善S/N比,在3mΩ量程下測試電流為1.5A ●電路結構較難受到接觸電阻和布線電阻的影響,實現穩定測量 ●同時測量阻抗和電壓

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    日本日置 300MHz阻抗分析儀

    日本日置300MHz阻抗分析儀IM7581-01/02 較快0.5ms,覆蓋100kHz~300MHz的低頻 ●測量頻率1MHz~300MHz ●測量時間:較快0.5ms ●基本精度±0.72%rdg. ●緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

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  • 日本日置 300MHz阻抗分析儀
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    日本日置300MHz阻抗分析儀IM7580A-1/2 較快0.5ms,高速、高穩定測量,節省空間的半個機架大小 ●測量頻率1MHz~300MHz ●測量時間:較快0.5ms ●基本精度±0.72%rdg. ●緊湊主機僅機架一半大小、測試頭僅手掌大小 ●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定) ●使用分析功能在掃描測量頻率、測量信號電平的同時進行測量

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  • 日本日置 600MHz阻抗分析儀
    日本日置 600MHz阻抗分析儀

    日本日置600MHz阻抗分析儀IM7583-01/02 高速、高穩定性測量,提高生產量!測量時間:較快0.5ms ●測量頻率:1MHz~600MHz ●測量時間:較快0.5ms(模擬測量時間) ●基本精度:±0.65%rdg. ●緊湊主機僅機架一半大小,測試頭僅手掌大小 ●豐富的接觸檢查功能(DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定)

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  • 日本日置 1.3GHz阻抗分析儀
    日本日置 1.3GHz阻抗分析儀

    日本日置1.3GHz阻抗分析儀IM7585-01/02 高速、高穩定性測量,提高生產量!測量時間:較快0.5ms,測量值偏差0.07% ●測量頻率:1MHz~1.3GHz ●測量時間:較快0.5ms(模擬測量時間) ●測量值偏差:0.07%(測量頻率1GHz時的代表值) ●基本精度:±0.65%rdg. ●緊湊主機僅機架一半大小,測試頭僅手掌大小

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